KEITHLEY参数分析仪

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添加时间：2016-4-11

产品简介

适用于材料和设备电气检定的全面解决方案

4200-SCS 是一个模块化、完全集成的参数分析仪，用于执行材料、半导体器件和流程的电气检定。从基本的 I-V 和 C-V 测量扫描到先进的超快脉冲式 I-V、波形捕获和瞬态 I-V 测量，4200-SCS 为研究人员或工程师提供设计、开发或生产所需的关键参数。

4200-SCS是一款能进行器件、材料或过程电气特性分析的模块化全集成参数分析仪。利用9个测量槽和内置低噪声接地单元，您可以根据测试要求或预算限制进行精密配置。

查看手册查看数据表点击以下任意型号了解更多。

直流I-V测量是器件和材料测试的基础。4200-SCS源测量单元（SMU）是高精度源电流或电压以及同步测量电流和电压的精密仪器。4200-SCS提供的宽范围I-V测量包括：亚ρA漏电测量、μΩ电阻测量。

探测台
DUT

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4200-SCS是一款能进行器件、材料或过程电气特性分析的模块化全集成参数分析仪。利用9个测量槽和内置低噪声接地单元，您可以根据测试要求或预算限制进行精密配置。点这里查看手册或数据表

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